蔡司Axio Imager 2 Pol
用于研究任務的偏光顯微鏡
您是否正在尋找一款能夠可靠完成復雜任務、生成出色檢測結果且易于操作的顯微鏡？用于偏光顯微觀察的蔡司Axio Imager將是您的選擇。該顯微鏡有編碼型、部分或全電動版本可供選擇，以滿足您的個性化需求。
☆自動組件識別
☆可靠的長時間成像
☆功能廣泛
自動組件識別技術值得信賴
由于采用了自動組件識別ACR(Automatic Component Recognition)技術，您可以全程信任顯微鏡設置。所有電動主機架皆可自動識別物鏡。此外，ACR技術還能在全電動Z系列主機中識別反射光模塊。Axio Imager可自動登記組件的更換。
薄層太陽能電池表面，用λ波片透射光偏振，EC Epiplan-APOCHROMAT 50x/0.95。
無振動設計確保可靠的長時間成像
借助Axio Imager出色的穩定性可實現隨時間變化的測量和高放大倍率觀察。物鏡轉盤、z軸升降臺和載物臺設計成一個緊湊式無振動單元，獨立于主機架的其余部分。這種“stable cell”的結構設計能夠創造理想的測量條件，獲得高質量的觀測結果。
擴展功能令操作更舒適
使用觸摸屏控制所有電動部件，保存個性化設置并輕松實現一鍵還原。借助符合人體工程學設計的控件直觀操作對焦驅動，或者通過獨立于主機架的控制面板來驅動系統。襯度和光強管理器可自動選擇理想設置，因此能夠生成可重復且可靠的結果。
應用
地質學和礦物
條形橄欖石球粒： 柯立芝隕石樣品：由德國美因河畔法蘭克福Senckenberg研究博物館隕石研究部J. Zipfel博士提供
透射光 - 明場。物鏡：EC Plan-NEOFLUAR 10x/0.30 Pol
反射光 - 暗場。物鏡：EC Epiplan-NEOFLUAR 10x/0.25 Pol
透射光 - 偏光。物鏡：EC Plan-NEOFLUAR 10x/0.30 Pol
透射光，帶有λ波片的偏光。物鏡：EC Plan-NEOFLUAR 10x/0.30 Pol
反射光 - 偏光。物鏡：EC Epiplan-NEOFLUAR 10x/0.25 Pol
方法
快速可靠的錐光鏡
偏光顯微鏡能夠同時采集無畸變和錐光的圖像信息。借助特殊設計的偏光鏡筒，物體、十字準線和可變光闌同時可見。得益于調節型可變光闌，它也適用于錐光觀測范圍最小為10 µm的晶體尺寸。預先對中的勃氏鏡光學元件可直接開關。因此，在捕捉圖像視頻時能夠快速進行技術切換。
光學各向異性晶體在線偏振光和圓偏振光，正視鏡和錐光鏡下的行為。
始終如一的測量性能
● 借助帶有360°刻度和0.1°游標尺的旋轉、球軸安裝式載物臺可輕松實現測量(如用于測量礦物的解理角)
● 光程差測定或應變測量
帶有固定光程差的補償器
● 全波片λ
● 四分之一波片λ / 4
● 全波片λ，可旋轉角度+/- 8°
● 有多種光譜補償器可選，可覆蓋從0至30 λ的測量范圍
具有可變光程差的補償器
● 光楔補償器 0-4 λ
● 測量補償器：
○ Berek傾斜補償器0-5 λ
○ Berek傾斜補償器0-30 λ
熱顯微技術與數字分析
Axio Imager還可提供更多方法，例如：
熱顯微技術
使用蔡司ZEN core軟件進行數字分析(如借助晶粒尺寸分析或Particle Analyzer)
歡迎來到
聯系人：霍先生
地址：北京市昌平區吉晟別墅19-11
郵箱：huogang010@163.com
傳真：010-82967358
