用于材料研究的蔡司Axio Imager 2

用于自動材料分析的開放式顯微鏡系統(tǒng)

在您從事優(yōu)良的材料研究時，Axio Imager 2可幫助簡化光學顯微鏡工作流。蔡司Axio Imager 2能夠?qū)Σ牧仙蓽蚀_且可重復的結(jié)果。選擇適合您應用的系統(tǒng)，使用顆粒分析等專用共聚焦或關(guān)聯(lián)顯微鏡解決方案擴展您的設(shè)備。

☆可重復的結(jié)果

☆模塊化設(shè)計

☆高光學性能

可重復的結(jié)果

享受無振動的工作環(huán)境

如要獲得準確的結(jié)果，穩(wěn)定性不可少。Axio Imager 2具有穩(wěn)定的成像條件，而在使用高放大倍率或進行對時間有高要求的研究時，該特性更為顯著。Axio Imager 2的電動化設(shè)計可以獲得快速且可重復的結(jié)果，同時始終在恒定條件下工作。

模塊化設(shè)計

獲得更大的靈活性

無論是學術(shù)還是工業(yè)研究，材料顯微鏡都面臨著各種各樣的挑戰(zhàn)。借助Axio Imager 2，您將能夠直面并戰(zhàn)勝這些挑戰(zhàn)。您可以連接特定于應用的組件，進行顆粒分析等工作，也可以檢測非金屬夾雜物（NMI）、液晶或基于半導體的MEM。借助專用共聚焦或關(guān)聯(lián)顯微鏡解決方案，您的設(shè)備功能將得到擴展。

高光學性能

實現(xiàn)出色襯度和分辨率

●使用不同觀察方式觀測金屬、復合材料或液晶等一系列材料。

●使用反射光，在明場、暗場、微分干涉相差（DIC）、圓微分干涉相差（C-DIC）、偏光或熒光下觀察樣品。

●使用透射光，在明場、暗場、微分干涉相差（DIC）、偏光或圓偏光下檢測樣品。觀察方式管理器能確保照明設(shè)置可復制。

觀察方式選擇

球墨鑄鐵，拋光樣品，使用不同觀察方式在相同位置成像（觀察視野265 µm）。圖像由德國凱瑟爾斯多夫的H.-L. Steyer博士提供。

明場

暗場

偏光（正交偏光）

使用附加了Lambda補償器的偏光

圓微分干涉相差（C-DIC）

人體工程學設(shè)計

表面應用無極限

Axio Imager.Z2m或Axio Imager.M2m可在觸摸屏上顯示關(guān)鍵操作功能，手指輕松點擊便可控制所有電動組件。其他控制按鈕依照人體工程學設(shè)計排列在對焦驅(qū)動裝置周邊，帶有觸覺反饋的表面使其易于區(qū)分。Axio Imager.D2m有5個預編程按鈕，Axio Imager.Z2m則有10個用戶自定義按鈕。Axio Imager.A2m已編碼。

熱顯微技術(shù)

靈活記錄溫度變化

您是否想研究溫度對金屬、晶體、陶瓷或塑料的影響？

借助ZEN core和Linkam加熱臺，您可以定制加熱或冷卻實驗。在時間序列中溫度模式會得到記錄，實驗結(jié)果將包含每幅時間序列圖像中的溫度和真空數(shù)據(jù)。您可以在質(zhì)量控制等應用領(lǐng)域中觀察樣品在加熱和冷卻過程中的變化。