13911246050,010-82967128
原位解決方案力學-電學測量系統（定量力+電+三維操縱）在標配TEM-STM樣品桿內集成納牛力傳感器，實現高精度的力學及電學測量。
原位解決方案-低溫電學測試系統（非定量力+電+低溫+三維操縱）在標配TEM-STM樣品桿內集成低溫環境控制單元，從而實現在透射電鏡中進行原位低溫電學測量的目的。
原位解決方案-光電性質測試系統（非定量力+電+光+三維操縱）在標配TEM-STM樣品桿內集成光纖單元，配合外接光譜儀或激光器實現光電測量或者CL測量。
原位MEMS-TEM-STM多場測量系統（非定量力+電+光+加熱）是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實驗系統，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環境（包括力，熱，光，電等），從而對材料或者器件等樣品實現多重激勵下的原位表征。
原位解決方案-高溫力學測量系統(定量力+電+三維操縱+加熱）同時集成了力學測量模塊及MEMS芯片模塊，可以在對樣品1000℃加熱的同時進行定量的力學測量。實現了透射電鏡中真正意義上的高分辨率定量原位力學研究。
原位解決方案-樣品桿預抽存儲系統PicoFemto透射電子顯微鏡樣品桿預抽存儲系統（T-station）由內置進口分子泵組、樣品桿預抽室及觸摸顯示屏組成。
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