13911246050,010-82967128
原位MEMS-TEM-STM多場測量系統（非定量力+電+光+加熱）是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實驗系統，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環境（包括力，熱，光，電等），從而對材料或者器件等樣品實現多重激勵下的原位表征。
原位解決方案-高溫力學測量系統(定量力+電+三維操縱+加熱）同時集成了力學測量模塊及MEMS芯片模塊，可以在對樣品1000℃加熱的同時進行定量的力學測量。實現了透射電鏡中真正意義上的高分辨率定量原位力學研究。
原位解決方案-樣品桿預抽存儲系統PicoFemto透射電子顯微鏡樣品桿預抽存儲系統（T-station）由內置進口分子泵組、樣品桿預抽室及觸摸顯示屏組成。
TEM原位拉伸與360°水平旋轉樣樣品桿 PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿，可在室溫條件下對材料施加拉力，結合透射電鏡原位觀察材料結構的變化。
原位MEMS加熱電學測量系統透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗手段。
歡迎來到
聯系人：霍先生
地址：北京市昌平區吉晟別墅19-11
郵箱：huogang010@163.com
傳真：010-82967358
